国家/地区 | Usa(2) |
关键词 | DIELECTRIC SCREENING(2) |
出版物 | |
出版时间 | 2016(2) |
机构 | |
作者 |
IEEE JOURNAL OF THE ELECTRON DEVICES SOCIETY
NASHED R, PAN CY, BRENNER K, NAEEMI A
NANO LETTERS
RAJA A, MONTOYACASTILLO A, ZULTAK J, ZHANG XX, YE ZL, ROQUELET C, CHENET DA, VAN DER ZANDE AM, HUANG P, JOCKUSCH S, HONE J, REICHMAN DR, BRUS LE, HEINZ TF