| 国家/地区 | Usa（2） |
| 关键词 | GRAPHENE（2） |
| 出版物 | |
| 出版时间 |
2020（3）
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| 机构 |
NIST（3）
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| 作者 |
ELMQUIST RE（3）
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IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION MEASUREMENT
OE T, RIGOSI AF, KRUSKOPF M, WU BY, LEE HY, YANG YF, ELMQUIST RE, KANEKO NH, JARRETT DG
PHYSICA BCONDENSED MATTER
RIGOSI AF, MARZANO M, LEVY A, HILL HM, PATEL DK, KRUSKOPF M, JIN H, ELMQUIST RE, NEWELL DB
ACS APPLIED ELECTRONIC MATERIALS
WU BY, YANG YF, RIGOSI AF, HU JN, LEE HY, CHENG GJ, PANCHAL V, KRUSKOPF M, JIN H, WATANABE K, TANIGUCHI T, NEWELL DB, ELMQUIST RE, LIANG CT