| 国家/地区 | |
| 关键词 | |
| 出版物 | |
| 出版时间 |
2020（2）
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| 机构 |
NIST（2）
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| 作者 |
WU BY（2）
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IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION MEASUREMENT
OE T, RIGOSI AF, KRUSKOPF M, WU BY, LEE HY, YANG YF, ELMQUIST RE, KANEKO NH, JARRETT DG
ACS APPLIED ELECTRONIC MATERIALS
WU BY, YANG YF, RIGOSI AF, HU JN, LEE HY, CHENG GJ, PANCHAL V, KRUSKOPF M, JIN H, WATANABE K, TANIGUCHI T, NEWELL DB, ELMQUIST RE, LIANG CT