| 国家/地区 | India（2） |
| 关键词 |
DEFECT（2）
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| 出版物 | |
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| 机构 |
ATAL BIHARI VAJPAYEE INDIAN INST INFORMAT TECHNOL（2）
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| 作者 | SRIVASTAVA A（2） |
IEEE SENSORS JOURNAL
DANDELIYA S, SRIVASTAVA A
IEEE TRANSACTIONS ON NANOTECHNOLOGY
SANTHIBHUSHAN B, KHAN MS, BOHAT VK, SRIVASTAVA A