国家/地区 China（2）
关键词
出版物 JOURNAL OF ELECTRONIC MATERIALS（2）
出版时间
机构 CHINESE ACAD SCI（2）
作者 LI J（2）

Crack-and-Fold Style Defects in CVD Graphene on Raw Cu Foils

JOURNAL OF ELECTRONIC MATERIALS

SUI YP, ZHANG YH, CHEN ZY, LIANG YJ, LI J, HU SK, KANG H, YU GH

Re-nucleation and Etching of Graphene During the Cooling Stage of Chemical Vapor Deposition

JOURNAL OF ELECTRONIC MATERIALS

LIANG YJ, ZHANG YH, CHEN ZY, GE XM, HU SK, LI J, SUI YP, YU GH