国家/地区 Poland（2）
关键词 SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY（2）
出版物 NANOTECHNOLOGY（2）
出版时间 2018（2）
机构 INST ELECT MAT TECHNOL（2）
作者 MICHALOWSKI .（2） PASTERNAK I（2） STRUPINSKI W（2）

Formation of a highly doped ultra-thin amorphous carbon layer by ion bombardment of graphene

NANOTECHNOLOGY

MICHALOWSKI PP, PASTERNAK I, CIEPIELEWSKI P, GUINEA F, STRUPINSKI W

Contamination-free Ge-based graphene as revealed by graphene enhanced secondary ion mass spectrometry (GESIMS)

NANOTECHNOLOGY

MICHALOWSKI PP, PASTERNAK I, STRUPINSKI W