国家/地区 Usa（2）
关键词
出版物
出版时间 2017（2）
机构 RENSSELAER POLYTECH INST（2）
作者 WASHINGTON MA（2）

Revealing the Crystalline Integrity of Wafer-Scale Graphene on SiO2/Si: An Azimuthal RHEED Approach

ACS APPLIED MATERIALS INTERFACES

LU ZH, SUN X, XIANG Y, WASHINGTON MA, WANG GC, LU TM

van der Waals epitaxy of CdS thin films on single-crystalline graphene

APPLIED PHYSICS LETTERS

SUN X, LU ZH, XIE WY, WANG YP, SHI J, ZHANG SB, WASHINGTON MA, LU TM