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关键词 MICRO FOURPOINT PROBE（2）
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机构 TECH UNIV DENMARK（2）
作者 WHELAN PR（2）

Wafer-scale graphene quality assessment using micro four-point probe mapping

NANOTECHNOLOGY

MACKENZIE DMA, KALHAUGE KG, WHELAN PR, OSTERGAARD FW, PASTERNAK I, STRUPINSKI W, BOGGILD P, JEPSEN PU, PETERSEN DH

Electrical Homogeneity Mapping of Epitaxial Graphene on Silicon Carbide

ACS APPLIED MATERIALS INTERFACES

WHELAN PR, PANCHAL V, PETERSEN DH, MACKENZIE DMA, MELIOS C, PASTERNAK I, GALLOP J, OSTERBERG FW, JEPSEN PU, STRUPINSKI W, KAZAKOVA O, BOGGILD P