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出版时间 2016（2）
机构 UPPSALA UNIV（2）
作者 LEIFER K（2）

A Simple Transmission Electron Microscopy Method for Fast Thickness Characterization of Suspended Graphene and Graphite Flakes

MICROSCOPY MICROANALYSIS

RUBINO S, AKHTAR S, LEIFER K

Site-selective local fluorination of graphene induced by focused ion beam irradiation

SCIENTIFIC REPORTS

LI H, DAUKIYA L, HALDAR S, LINDBLAD A, SANYAL B, ERIKSSON O, AUBEL D, HAJJARGARREAU S, SIMON L, LEIFER K