国家/地区 China（2）
关键词
出版物 JOURNAL OF APPLIED PHYSICS（2）
出版时间
机构 CHINESE ACAD SCI（2）
作者 ZHANG Y（2）

Sample-charged mode scanning polarization force microscopy for characterizing reduced graphene oxide sheets

JOURNAL OF APPLIED PHYSICS

SHEN Y, WANG Y, ZHANG JJ, HAI CX, ZHOU Y, HU J, ZHANG Y

Dielectrophoretic assembly and atomic force microscopy modification of reduced graphene oxide

JOURNAL OF APPLIED PHYSICS

ZHANG Y, LIU LQ, XI N, WANG YC, DONG ZL, WEJINYA UC