国家/地区 Usa（2）
关键词
出版物 JOURNAL OF VACUUM SCIENCE TECHNOLOGY A（2）
出版时间
机构
作者 FEENSTRA RM（2）

Thickness monitoring of graphene on SiC using low-energy electron diffraction

JOURNAL OF VACUUM SCIENCE TECHNOLOGY A

FISHER PJ, LUXMI, SRIVASTAVA N, NIE S, FEENSTRA RM

Tunneling spectroscopy of graphene and related reconstructions on SiC(0001)

JOURNAL OF VACUUM SCIENCE TECHNOLOGY A

NIE S, FEENSTRA RM