国家/地区 Malaysia（2）
关键词
出版物 MICROELECTRONICS RELIABILITY（2）
出版时间
机构
作者 RAHMANI M（2）

Analytical model for threshold voltage of double gate bilayer graphene field effect transistors

MICROELECTRONICS RELIABILITY

SAEIDMANESH M, RAHMANI M, KARIMI H, KHALEDIAN M, ISMAIL R

Ionization coefficient of monolayer graphene nanoribbon

MICROELECTRONICS RELIABILITY

GHADIRY M, BIN ABD MANAF A, NADI M, RAHMANI M, AHMADI MT