| 国家/地区 |
Iran（2）
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| 关键词 |
INTERCONNECT（2）
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| 出版物 |
MICROELECTRONICS RELIABILITY（2）
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| 出版时间 | |
| 机构 |
ISLAMIC AZAD UNIV（2）
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| 作者 | HAJINASIRI S（2） |
MICROELECTRONICS RELIABILITY
FOTOOHI S, HAJINASIRI S
MICROELECTRONICS RELIABILITY
BAGHERI A, RANJBAR M, HAJINASIRI S, MIRZAKUCHAKI S