国家/地区
关键词 ATOMIC FORCE MICROSCOPY（2）
出版物 MICRON（2）
出版时间
机构
作者

AFM diagnostics of graphene-based quantum Hall devices

MICRON

SIKORA A, WOSZCZYNA M, FRIEDEMANN M, AHLERS FJ, KALBACC M

Fabrication and tribological properties of nanogrids on CVD-grown graphene

MICRON

JIANG Y, SUN Y, SONG J