国家/地区
关键词 SIC（2）
出版物 NANOTECHNOLOGY（2）
出版时间
机构
作者 STRUPINSKI W（2）

Wafer-scale graphene quality assessment using micro four-point probe mapping

NANOTECHNOLOGY

MACKENZIE DMA, KALHAUGE KG, WHELAN PR, OSTERGAARD FW, PASTERNAK I, STRUPINSKI W, BOGGILD P, JEPSEN PU, PETERSEN DH

In situ Raman spectroscopy of the graphene/water interface of a solution-gated field-effect transistor: electron-phonon coupling and spectroelectrochemistry

NANOTECHNOLOGY

BINDER J, URBAN JM, STEPNIEWSKI R, STRUPINSKI W, WYSMOLEK A