国家/地区 Usa（2）
关键词 SCANNING PROBE MICROSCOPY（2）
出版物 NANOTECHNOLOGY（2）
出版时间 2016（2）
机构 OAK RIDGE NA.（2）
作者 JESSE S（2）

Data mining graphene: correlative analysis of structure and electronic degrees of freedom in graphenic monolayers with defects

NANOTECHNOLOGY

ZIATDINOV M, FUJII S, KIGUCHI M, ENOKI T, JESSE S, KALININ SV

Graphene engineering by neon ion beams

NANOTECHNOLOGY

IBERI V, IEVLEV AV, VLASSIOUK I, JESSE S, KALININ SV, JOY DC, RONDINONE AJ, BELIANINOV A, OVCHINNIKOVA OS