国家/地区 Korea（2）
关键词
出版物 REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS（2）
出版时间
机构
作者 PARK JY（2）

Height determination of single-layer graphene on mica at controlled humidity using atomic force microscopy

REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS

LEE H, PARK JY

Facile characterization of ripple domains on exfoliated graphene

REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS

CHOI JS, KIM JS, BYUN IS, LEE DH, HWANG IR, PARK BH, CHOI T, PARK JY, SALMERON M