国家/地区 Usa（2）
关键词
出版物 SMALL（2）
出版时间
机构 NIST（2）
作者 ELMQUIST RE（2） NEWELL DB（2） YANG YF（2）

Preservation of Surface Conductivity and Dielectric Loss Tangent in Large-Scale, Encapsulated Epitaxial Graphene Measured by Noncontact Microwave Cavity Perturbations

SMALL

RIGOSI AF, GLAVIN NR, LIU CI, YANG YF, OBRZUT J, HILL HM, HU JN, LEE HY, WALKER ARH, RICHTER CA, ELMQUIST RE, NEWELL DB

Low Carrier Density Epitaxial Graphene Devices On SiC

SMALL

YANG YF, HUANG LI, FUKUYAMA Y, LIU FH, REAL MA, BARBARA P, LIANG CT, NEWELL DB, ELMQUIST RE