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  • 文献标题:   Graphene-Coated Atomic Force Microscope Tips for Reliable Nanoscale Electrical Characterization
  • 文献类型:   Article
  • 作　　者:   LANZA M, BAYERL A, GAO T, PORTI M, NAFRIA M, JING GY, ZHANG YF, LIU ZF, DUAN HL
  • 作者关键词:   graphene, atomic force microscopy, tip wearing, electrochemical metallization, chemical vapor deposition
  • 出版物名称:   ADVANCED MATERIALS
  • ISSN:   0935-9648
  • 通讯作者地址:   Peking Univ
  • 被引频次:   36
  • DOI:   10.1002/adma.201204380
  • 出版年:   2013

▎ 摘　　要