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  • 文献标题:   An Effective Approach for the Identification of Carrier Type and Local Inversion Doping in Graphene by Biased Atomic Force Microscopy
  • 文献类型:   Article
  • 作　　者:   JIA YP, GUO LW, LI ZL, HUANG J, LU W, CHEN HX, CHEN XL
  • 作者关键词:   afm, carrier type, graphene, inversion doping
  • 出版物名称:   ADVANCED ELECTRONIC MATERIALS
  • ISSN:   2199-160X
  • 通讯作者地址:   Chinese Acad Sci
  • 被引频次:   5
  • DOI:   10.1002/aelm.201500255
  • 出版年:   2016

▎ 摘　　要