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  • 文献标题:   Adatom on Graphene, Directly Imaged by Aberration Corrected TEM at 300kV
  • 文献类型:   Meeting Abstract
  • 作　　者:   TANAKA T, ABE Y, SAWADA H, OKUNISHI E, KONDO Y, TANISHIRO Y, TAKAYANAGI K
  • 作者关键词:  
  • 出版物名称:   MICROSCOPY MICROANALYSIS
  • ISSN:   1431-9276
  • 通讯作者地址:   Tokyo Inst Technol
  • 被引频次:   0
  • DOI:   10.1017/S1431927609097876
  • 出版年:   2009

▎ 摘　　要