• 文献标题:   High Resolution TEM and Electron Diffraction Study of Graphene Layers
  • 文献类型:   Meeting Abstract
  • 作  者:   SUH YJ, PARK SY, KIM MJ
  • 作者关键词:  
  • 出版物名称:   MICROSCOPY MICROANALYSIS
  • ISSN:   1431-9276
  • 通讯作者地址:   Univ Texas Dallas
  • 被引频次:   9
  • DOI:   10.1017/S1431927609098808
  • 出版年:   2009

▎ 摘  要