- 平台首页
- 国际论文信息
- 文献标题: High Resolution TEM and Electron Diffraction Study of Graphene Layers
- 文献类型: Meeting Abstract
- 作 者: SUH YJ, PARK SY, KIM MJ
- 作者关键词:
- 出版物名称: MICROSCOPY MICROANALYSIS
- ISSN: 1431-9276
- 通讯作者地址: Univ Texas Dallas
- 被引频次: 9
- DOI: 10.1017/S1431927609098808
- 出版年: 2009