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  • 文献标题:   Single Defect Center Scanning Near-Field Optical Microscopy on Graphene (vol 13, pg 3152, 2013)
  • 文献类型:   Correction
  • 作　　者:   TISLER J, OECKINGHAUS T, STOHR RJ, KOLESOV R, REUTER R, REINHARD F, WRACHTRUP J
  • 作者关键词:  
  • 出版物名称:   NANO LETTERS
  • ISSN:   1530-6984
  • 通讯作者地址:  
  • 被引频次:   0
  • DOI:   10.1021/nl402495a
  • 出版年:   2013

▎ 摘　　要