| 国家/地区 | Usa（4） |
| 关键词 |
GRAPHENE（3）
QUANTIZED HALL RESI.（2）
QUANTUM HALL EFFECT（2）
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| 出版物 | IEEE TRANSACTIONS O.（2） |
| 出版时间 |
2020（6）
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| 机构 | NIST（3） |
| 作者 |
ELMQUIST RE（6）
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IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION MEASUREMENT
PAYAGALA SU, RIGOSI AF, PANNA AR, POLLAROLO A, KRUSKOPF M, SCHLAMMINGER S, JARRETT DG, BROWN R, ELMQUIST RE, BROWN D, NEWELL DB
JOURNAL OF MATERIALS CHEMISTRY C
DE MORAES ACM, OBRZUT J, SANGWAN VK, DOWNING JR, CHANEY LE, PATEL DK, ELMQUIST RE, HERSAM MC
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION MEASUREMENT
OE T, RIGOSI AF, KRUSKOPF M, WU BY, LEE HY, YANG YF, ELMQUIST RE, KANEKO NH, JARRETT DG
PHYSICA BCONDENSED MATTER
RIGOSI AF, MARZANO M, LEVY A, HILL HM, PATEL DK, KRUSKOPF M, JIN H, ELMQUIST RE, NEWELL DB
METROLOGIA
MARZANO M, KRUSKOPF M, PANNA AR, RIGOSI AF, PATEL DK, JIN HY, CULAR S, CALLEGARO L, ELMQUIST RE, ORTOLANO M
ACS APPLIED ELECTRONIC MATERIALS
WU BY, YANG YF, RIGOSI AF, HU JN, LEE HY, CHENG GJ, PANCHAL V, KRUSKOPF M, JIN H, WATANABE K, TANIGUCHI T, NEWELL DB, ELMQUIST RE, LIANG CT