| 国家/地区 | Usa（3） |
| 关键词 |
QUANTIZED HALL RESI.（4）
EPITAXIAL GRAPHENE .（2）
GRAPHENE（2）
STANDARD RESISTOR（2） |
| 出版物 |
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION MEASUREMENT（5）
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| 出版时间 | 2020（2） |
| 机构 | NIST（2） |
| 作者 |
ELMQUIST RE（5）
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IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION MEASUREMENT
PAYAGALA SU, RIGOSI AF, PANNA AR, POLLAROLO A, KRUSKOPF M, SCHLAMMINGER S, JARRETT DG, BROWN R, ELMQUIST RE, BROWN D, NEWELL DB
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION MEASUREMENT
OE T, RIGOSI AF, KRUSKOPF M, WU BY, LEE HY, YANG YF, ELMQUIST RE, KANEKO NH, JARRETT DG
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION MEASUREMENT
RIGOSI AF, PANNA AR, PAYAGALA SU, KRUSKOPF M, KRAFT ME, JONES GR, WU BY, LEE HY, YANG YF, HU JN, JARRETT DG, NEWELL DB, ELMQUIST RE
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION MEASUREMENT
REAL MA, LASS EA, LIU FH, SHEN T, JONES GR, SOONS JA, NEWELL DB, DAVYDOV AV, ELMQUIST RE
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION MEASUREMENT
FUKUYAMA Y, ELMQUIST RE, HUANG LI, YANG YF, LIU FH, KANEKO NH