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2018（2）
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| 作者 |
HO CH（2）
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PHYSICAL REVIEW B
LIN CY, HUANG BL, HO CH, GUMBS G, LIN MF
IEEE JOURNAL OF THE ELECTRON DEVICES SOCIETY
WANG H, YAN XB, JIA XL, ZHANG ZC, HO CH, LU C, ZHANG YY, YANG T, ZHAO JH, ZHOU ZY, ZHAO ML, REN DL