| 国家/地区 | |
| 关键词 | CHARGE TRAPPING MEM.（2） |
| 出版物 | |
| 出版时间 | 2018（2） |
| 机构 |
HEBEI UNIV（3）
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| 作者 |
JIA XL（3）
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MATERIALS RESEARCH EXPRESS
JIA XL, HONG W, LI XY, WANG JJ, TAO Y, ZHOU ZY, ZHAO JH, CHAO L, RON DL, YAN XB
APPLIED PHYSICS AMATERIALS SCIENCE PROCESSING
JIA XL, YAN XB, WANG H, YANG T, ZHOU ZY, ZHAO JH
IEEE JOURNAL OF THE ELECTRON DEVICES SOCIETY
WANG H, YAN XB, JIA XL, ZHANG ZC, HO CH, LU C, ZHANG YY, YANG T, ZHAO JH, ZHOU ZY, ZHAO ML, REN DL