国家/地区 Germany（3）
关键词 LOW VOLTAGE（2）
出版物 ULTRAMICROSCOPY（3）
出版时间
机构 UNIV ULM（3）
作者 LEE Z（3）

Lattice contrast in the core-loss EFTEM signal of graphene

ULTRAMICROSCOPY

MOHN MJ, BISKUPEK J, LEE Z, ROSE H, KAISER U

The influence of inelastic scattering on EFTEM images-exemplified at 20 kV for graphene and silicon

ULTRAMICROSCOPY

LEE Z, ROSE H, HAMBACH R, WACHSMUTH P, KAISER U

Optimum HRTEM image contrast at 20 kV and 80 kV-Exemplified by graphene

ULTRAMICROSCOPY

LEE Z, MEYER JC, ROSE H, KAISER U