国家/地区 Usa(3)
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机构 IBM TJ WATSON RES CTR(3)
作者 LIN YM(3)

PHYSICAL REVIEW B

FARMER DB, PEREBEINOS V, LIN YM, DIMITRAKOPOULOS C, AVOURIS P

IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS

LIN YM, CHIU HY, JENKINS KA, FARMER DB, AVOURIS P, VALDESGARCIA A

NANO LETTERS

FARMER DB, CHIU HY, LIN YM, JENKINS KA, XIA FN, AVOURIS P