| 国家/地区 |
Usa（2）
|
| 关键词 | |
| 出版物 | |
| 出版时间 |
2018（2）
|
| 机构 | NIST（2） |
| 作者 |
LIU CI（2）
|
PHYSICAL REVIEW B
HU JN, RIGOSI AF, LEE JU, LEE HY, YANG YF, LIU CI, ELMQUIST RE, NEWELL DB
MICROELECTRONIC ENGINEERING
RIGOSI AF, LIU CI, WU BY, LEE HY, KRUSKOPF M, YANG YF, HILL HM, HU JN, BITTLE EG, OBRZUT J, WALKER ARH, ELMQUIST RE, NEWELL DB