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关键词 ATOMIC FORCE MICROSCOPY(2)
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机构
作者 PAILLET M(2)

ACS APPLIED NANO MATERIALS

BARIN GB, FAIRBROTHER A, ROTACH L, BAYLE M, PAILLET M, LIANG LB, MEUNIER V, HAUERT R, DUMSLAFF T, NARITA A, MULLEN K, SAHABUDEEN H, BERGER R, FENG XL, FASEL R, RUFFIEUX P

PHYSICA STATUS SOLIDI AAPPLICATIONS MATERIALS SCIENCE

DAGHER R, MATTA S, PARRET R, PAILLET M, JOUAULT B, NGUYEN L, PORTAIL M, ZIELINSKI M, CHASSAGNE T, TANAKA S, BRAULT J, CORDIER Y, MICHON A