| 国家/地区 | Usa（2） |
| 关键词 | |
| 出版物 |
APPLIED PHYSICS LETTERS（4）
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| 出版时间 | |
| 机构 | SANDIA NATL .（2） |
| 作者 |
PAN W（4）
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Curvature analysis of single layer graphene on the basis of extreme low-frequency Raman spectroscopy
APPLIED PHYSICS LETTERS
SHEN Y, DAI E, LIU X, PAN W, YANG H, XIONG B, ZERULLA D
APPLIED PHYSICS LETTERS
COBALEDA CSF, XIAO XY, BURCKEL DB, POLSKY R, HUANG DN, DIEZ E, PAN W
APPLIED PHYSICS LETTERS
MITROFANOV O, YU WL, THOMPSON RJ, JIANG YX, BRENER I, PAN W, BERGER C, DE HEER WA, JIANG ZG
APPLIED PHYSICS LETTERS
PAN W, HOWELL SW, ROSS AJ, OHTA T, FRIEDMANN TA