国家/地区 Usa（2）
关键词
出版物
出版时间
机构 STANFORD UNIV（2）
作者 SEO S（2）

Graphene Interconnect Lifetime: A Reliability Analysis

IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS

CHEN XY, SEO DH, SEO S, CHUNG H, WONG HSP

Fully transparent InGaZnO thin film transistors using indium tin oxide/graphene multilayer as source/drain electrodes

APPLIED PHYSICS LETTERS

SEO D, JEON S, SEO S, SONG I, KIM C, PARK S, HARRIS JS, CHUNG UI