PHYSICAL REVIEW APPLIED
VERMEULEN N, CASTELLOLURBE D, CHENG JL, PASTERNAK I, KRAJEWSKA A, CIUK T, STRUPINSKI W, THIENPONT H, VAN ERPS J
OPTICS EXPRESS
SOBON G, SOTOR J, PRZEWOLKA A, PASTERNAK I, STRUPINSKI W, ABRAMSKI K
AIP ADVANCES
WINTERS M, SVEINBJORNSSON EO, MELIOS C, KAZAKOVA O, STRUPINSKI W, RORSMAN N
APPLIED PHYSICS LETTERS
MICHALOWSKI PP, KASZUB W, MERKULOV A, STRUPINSKI W
OPTICS LETTERS
SOTOR J, PAWLISZEWSKA M, SOBON G, KACZMAREK P, PRZEWOLKA A, PASTERNAK I, CAJZL J, PETERKA P, HONZATKO P, KASIK I, STRUPINSKI W, ABRAMSKI K
2D MATERIALS
MELIOS C, SPENCER S, SHARD A, STRUPINSKI W, SILVA SRP, KAZAKOVA O
APPLIED PHYSICS LETTERS
CIUK T, PETRUK O, KOWALIK A, JOZWIK I, RYCHTER A, SZMIDT J, STRUPINSKI W
CARBON
CIUK T, CABAN P, STRUPINSKI W
CARBON
KRAJEWSKA A, OBERDA K, AZPEITIA J, GUTIERREZ A, PASTERNAK I, LOPEZ MF, MIERCZYK Z, MUNUERA C, STRUPINSKI W
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
HABIBPOUR O, HE ZS, STRUPINSKI W, RORSMAN N, CIUK T, CIEPIELEWSKI P, ZIRATH H