| 国家/地区 | China（3） |
| 关键词 | |
| 出版物 | |
| 出版时间 |
2019（4）
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| 机构 | CHINESE ACAD.（3） |
| 作者 |
XI K（4）
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SCIENCE CHINAINFORMATION SCIENCES
XI K, BI JS, MAJUMDAR S, LI B, LIU J, XU YN, LIU M
MICROELECTRONICS RELIABILITY
XU YN, BI JS, LI YD, XI K, FAN LJ, LIU M, SANDIP M, LUO L
PROCEEDINGS OF THE NATIONAL ACADEMY OF SCIENCES OF THE UNITED STATES OF AMERICA
LUO BC, YAO Y, TIAN EK, SONG HZ, WANG XH, LI GW, XI K, LI BW, SONG HF, LI LT
APPLIED PHYSICS EXPRESS
XU YN, BI JS, XI K, LIU M