国家/地区 Hungary（2）
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机构 HUNGARIAN AC.（2）
作者 YAKIMOVA R（2）

Determination of the thickness distribution of a graphene layer grown on a 2 '' SiC wafer by means of Auger electron spectroscopy depth profiling

APPLIED SURFACE SCIENCE

GURBAN S, PECZ B, MENYHARD M, YAKIMOVA R

GaN heterostructures with diamond and graphene

SEMICONDUCTOR SCIENCE TECHNOLOGY

PECZ B, TOTH L, TSIAKATOURAS G, ADIKIMENAKIS A, KOVACS A, DUCHAMP M, DUNINBORKOWSKI RE, YAKIMOVA R, NEUMANN PL, BEHMENBURG H, FOLTYNSKI B, GIESEN C, HEUKEN M, GEORGAKILAS A