国家/地区 Japan(4)
关键词 CONDUCTIVE ATOMIC FORCE MICROSCOPY(4)
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机构
作者

ACS APPLIED MATERIALS INTERFACES

MATSUMOTO Y, KOINUMA M, KIM SY, WATANABE Y, TANIGUCHI T, HATAKEYAMA K, TATEISHI H, IDA S

ADVANCED MATERIALS INTERFACES

CERMAK J, YAMADA T, GANZEROVA K, REZEK B

APPLIED SURFACE SCIENCE

MORIKUNI Y, DE SILVA KKH, VISWANATH P, HARA M, YOSHIMURA M