国家/地区 Netherlands（2）
关键词 CONTACT RESISTANCE（2）
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作者

Quantum resistance metrology in graphene

APPLIED PHYSICS LETTERS

GIESBERS AJM, RIETVELD G, HOUTZAGER E, ZEITLER U, YANG R, NOVOSELOV KS, GEIM AK, MAAN JC

Graphene devices with bottom-up contacts by area-selective atomic layer deposition

2D MATERIALS

THISSEN NFW, VERVUURT RHJ, MACKUS AJM, MULDERS JJL, WEBER JW, KESSELS WMM, BOL AA