| 国家/地区 | Usa（3） |
| 关键词 |
EPITAXIAL GRAPHENE（3）
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| 出版物 | |
| 出版时间 | 2018（3） |
| 机构 |
NIST（3）
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| 作者 |
ELMQUIST RE（3）
HILL HM（2）
HU JN（2）
KRUSKOPF M（2）
NEWELL DB（2） RIGOSI AF（2） WALKER ARH（2） YANG YF（2） |
METROLOGIA
KRUSKOPF M, ELMQUIST RE
MICROELECTRONIC ENGINEERING
RIGOSI AF, LIU CI, WU BY, LEE HY, KRUSKOPF M, YANG YF, HILL HM, HU JN, BITTLE EG, OBRZUT J, WALKER ARH, ELMQUIST RE, NEWELL DB
2D MATERIALS
RIGOSI AF, HILL HM, GLAVIN NR, POOKPANRATANA SJ, YANG YF, BOOSALIS AG, HU JN, RICE A, ALLERMAN AA, NGUYEN NV, HACKER CA, ELMQUIST RE, WALKER ARH, NEWELL DB