国家/地区 Germany（2）
关键词 FRET（2）
出版物
出版时间
机构 UNIV STUTTGA.（2）
作者 REUTER R（2）

Single Defect Center Scanning Near-Field Optical Microscopy on Graphene

NANO LETTERS

TISLER J, OECKINGHAUS T, STOHR RJ, KOLESOV R, REUTER R, REINHARD F, WRACHTRUP J

Super-resolution Fluorescence Quenching Microscopy of Graphene

ACS NANO

STOHR RJ, KOLESOV R, XIA KW, REUTER R, MEIJER J, LOGVENOV G, WRACHTRUP J