ACS NANO

DE FAZIO D, UZLU B, TORRE I, MONASTERIOBALCELLS C, GUPTA S, KHODKOV T, BI Y, WANG ZX, OTTO M, LEMME MC, GOOSSENS S, NEUMAIER D, KOPPENS FHL

ACS APPLIED ELECTRONIC MATERIALS

WITTMANN S, AUMER F, WITTMANN D, PINDL S, WAGNER S, GAHOI A, REATO E, BELETE M, KATARIA S, LEMME MC

ADVANCED OPTICAL MATERIALS

RIAZIMEHR S, BELETE M, KATARIA S, ENGSTROM O, LEMME MC

IEEE TRANSACTIONS ON SEMICONDUCTOR MANUFACTURING

DRIUSSI F, VENICA S, GAHOI A, KATARIA S, LEMME MC, PALESTRI P

APPLIED SCIENCESBASEL

FADIL D, PASSI V, WEI W, BEN SALK S, ZHOU D, STRUPINSKI W, LEMME MC, ZIMMER T, PALLECCHI E, HAPPY H, FREGONESE S

ACS APPLIED MATERIALS INTERFACES

BELETE M, ENGSTROM O, VAZIRI S, LIPPERT G, LUKOSIUS M, KATARIA S, LEMME MC

NANO LETTERS

FAN XG, FORSBERG F, SMITH AD, SCHRODER S, WAGNER S, OSTLING M, LEMME MC, NIKLAUS F

MICROELECTRONIC ENGINEERING

DRIUSSI F, VENICA S, GAHOI A, GAMBI A, GIANNOZZI P, KATARIA S, LEMME MC, PALESTRI P, ESSENI D

ACS APPLIED NANO MATERIALS

WITTMANN S, GLACER C, WAGNER S, PINDL S, LEMME MC

IEEE JOURNAL OF THE ELECTRON DEVICES SOCIETY

KONIG M, RUHL G, GAHOI A, WITTMANN S, PREIS T, BATKE JM, COSTINA I, LEMME MC