国家/地区 | |
关键词 | INTERCONNECT(2) |
出版物 | |
出版时间 | 2015(2) |
机构 | |
作者 |
ACS NANO
LI L, CHEN XY, WANG CH, CAO J, LEE S, TANG A, AHN C, ROY SS, ARNOLD MS, WONG HSP
MICROELECTRONICS RELIABILITY
BAGHERI A, RANJBAR M, HAJINASIRI S, MIRZAKUCHAKI S
国家/地区 | |
关键词 | INTERCONNECT(2) |
出版物 | |
出版时间 | 2015(2) |
机构 | |
作者 |
ACS NANO
LI L, CHEN XY, WANG CH, CAO J, LEE S, TANG A, AHN C, ROY SS, ARNOLD MS, WONG HSP
MICROELECTRONICS RELIABILITY
BAGHERI A, RANJBAR M, HAJINASIRI S, MIRZAKUCHAKI S