国家/地区
关键词 INTERCONNECT(2)
出版物
出版时间 2015(2)
机构
作者

ACS NANO

LI L, CHEN XY, WANG CH, CAO J, LEE S, TANG A, AHN C, ROY SS, ARNOLD MS, WONG HSP

MICROELECTRONICS RELIABILITY

BAGHERI A, RANJBAR M, HAJINASIRI S, MIRZAKUCHAKI S