| 国家/地区 | India（3） Belgium（2） |
| 关键词 |
INTERCONNECT（8）
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| 出版物 | |
| 出版时间 |
2017（8）
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| 机构 | |
| 作者 | RAHAMAN H（3） BHATTACHARYA.（2） DAS D（2） |
MICROELECTRONICS RELIABILITY
FOTOOHI S, HAJINASIRI S
NATIONAL ACADEMY SCIENCE LETTERSINDIA
BHATTACHARYA S, DAS D, RAHAMAN H
JOURNAL OF CIRCUITS SYSTEMS COMPUTERS
SAHOO M, RAHAMAN H
NANO LETTERS
JIANG JK, KANG JH, CAO W, XIE XJ, ZHANG HJ, CHU JH, LIU W, BANERJEE K
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ZHOU CJ, SENEGOR R, BARON Z, CHEN YH, RAJU S, VYAS AA, CHAN MS, CHAI Y, YANG CY
MICROELECTRONIC ENGINEERING
POLITOU M, WU XY, ASSELBERGHS I, CONTINO A, SOREE B, RADU I, HUYGHEBAERT C, TOKEI Z, DE GENDT S, HEYNS M
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SHIRAMIN LA, VAN THOURHOUT D
IETE JOURNAL OF RESEARCH
BHATTACHARYA S, DAS D, RAHAMAN H