| 国家/地区 | |
| 关键词 |
METROLOGY（3）
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| 出版物 | |
| 出版时间 |
2019（3）
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| 机构 | |
| 作者 |
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION MEASUREMENT
RIGOSI AF, PANNA AR, PAYAGALA SU, KRUSKOPF M, KRAFT ME, JONES GR, WU BY, LEE HY, YANG YF, HU JN, JARRETT DG, NEWELL DB, ELMQUIST RE
MICROELECTRONIC ENGINEERING
WHELAN PR, ZHAO XJ, PASTERNAK I, STRUPINSKI W, JEPSEN PU, BOGGILD P
2D MATERIALS
KOVTUN A, TREOSSI E, MIROTTA N, SCIDA A, LISCIO A, CHRISTIAN M, VALOROSI F, BOSCHI A, YOUNG RJ, GALIOTIS C, KINLOCH IA, MORANDI V, PALERMO V