| 国家/地区 |
Usa（2）
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| 关键词 |
RELIABILITY（2）
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| 出版物 | IEEE ELECTRON DEVIC.（2） |
| 出版时间 | |
| 机构 |
STANFORD UNIV（2）
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| 作者 |
WONG HSP（2）
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IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
LI L, ZHU ZW, YOON A, WONG HSP
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
CHEN XY, SEO DH, SEO S, CHUNG H, WONG HSP