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RESISTANCE STANDARD（3）
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| 出版物 | |
| 出版时间 | 2015（2） |
| 机构 | |
| 作者 | ELMQUIST RE（2） YANG YF（2） |
MATERIALS
CHUANG CS, LIU CW, YANG YF, SYONG WR, LIANG CT, ELMQUIST RE
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION MEASUREMENT
FUKUYAMA Y, ELMQUIST RE, HUANG LI, YANG YF, LIU FH, KANEKO NH
SEMICONDUCTOR SCIENCE TECHNOLOGY
IAGALLO A, TANABE S, RODDARO S, TAKAMURA M, SEKINE Y, HIBINO H, MISEIKIS V, COLETTI C, PIAZZA V, BELTRAM F, HEUN S