国家/地区 Korea(2)
关键词 SCANNING PROBE MICROSCOPY(2)
出版物
出版时间
机构
作者

MICROELECTRONIC ENGINEERING

CHAE J, HA J, BAEK H, KUK Y, JUNG SY, SONG YJ, ZHITENEV NB, STROSCIO JA, WOO SJ, SON YW

MATERIALS

PARK CW, LEE JH, SEO JK, RAN WTA, WHANG D, HWANG SM, KIM YJ