国家/地区 Russia（2）
关键词 SCANNING PROBE MICROSCOPY（2）
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机构
作者 KLEPIKOVA AS（2） KORKH YV（2） RINKEVICH AB（2） TOLMACHEVA E.（2）

Quality Characterization of CVD-Synthesized Graphene Films by Scanning Probe Microscopy

DOKLADY PHYSICS

RINKEVICH AB, KORKH YV, KLEPIKOVA AS, TOLMACHEVA EA

Characterization of CVD-synthesized graphene films transferred on different substrates using the scanning probe microscopy electrical techniques

PHYSICA ELOWDIMENSIONAL SYSTEMS NANOSTRUCTURES

KORKH YV, RINKEVICH AB, KLEPIKOVA AS, TOLMACHEVA EA, PANKRUSHINA EA