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| 关键词 |
SCANNING PROBE MICROSCOPY（4）
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| 出版物 | |
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2011（4）
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| 机构 | |
| 作者 |
MICROELECTRONIC ENGINEERING
CHAE J, HA J, BAEK H, KUK Y, JUNG SY, SONG YJ, ZHITENEV NB, STROSCIO JA, WOO SJ, SON YW
NANO LETTERS
SEVERIN N, DORN M, KALACHEV A, RABE JP
SURFACE SCIENCE
HATTORI AN, OKAMOTO T, SADAKUNI S, MURATA J, ARIMA K, SANO Y, HATTORI K, DAIMON H, ENDO K, YAMAUCHI K
NANOSCIENCE NANOTECHNOLOGY LETTERS
RAINERI V, RIMINI E, GIANNAZZO F