国家/地区 |
Italy(2)![]() |
关键词 |
SCANNING TUNNELING MICROSCOPY(2)![]() |
出版物 | |
出版时间 | |
机构 |
CNR(2)![]() |
作者 |
HEUN S(2)![]() |
ADVANCED MATERIALS INTERFACES
SALIMIAN S, XIANG SH, COLONNA S, RONCI F, FOSCA M, ROSSELLA F, BELTRAM F, FLAMMINI R, HEUN S
NANO RESEARCH
MURATA Y, CAVALLUCCI T, TOZZINI V, PAVLICEK N, GROSS L, MEYER G, TAKAMURA M, HIBINO H, BELTRAM F, HEUN S